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» 2016年05月09日 09時30分 UPDATE

EE Times Japan×EDN Japan 統合電子版:スイッチノードリンギングの原因と対策――電子版2016年5月号

「EE Times Japan×EDN Japan 統合電子版」の2016年5月号を発行しました。Cover Storyは、広入力電圧範囲DC-DCコンバーターで発生する「スイッチノードリンギング」を取り上げ、その発生メカニズムと対策を解説しています。その他、「iPhone SE」の製品解剖記事などを掲載しています。

[EE Times Japan/EDN Japan]

「EE Times Japan×EDN Japan 統合電子版」一覧

2016年5月号

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Cover Story

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 今回のCover Storyは、「スイッチノードリンギングの原因と対策」です。

 最近、製品化が相次いでいます広入力電圧範囲DC-DCコンバーター。ですが、こうしたDC-DCコンバーターの高速ターンオン/ターンオフするMOSFETは、スイッチノードのリンギングを発生させ、さまざまな障害の原因となっています。そこで、DC-DCコンバーターにおけるスイッチノードリンギングおよびスパイクの仕組みを解説しつつ、その発生メカニズムと対策方法を詳しく紹介します。

Tear Down

「iPhone SE」を分解

Design Feature

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編集部よりお知らせ

 「EE Times Japan×EDN Japan 統合電子版」の発行は、2016年5月号の発行をもちまして、終了致しました。長らくのご愛顧ありがとうございました。


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