メディア

SanDiskが語る、抵抗変化メモリの長期信頼性福田昭のストレージ通信(50) 抵抗変化メモリの開発動向(9)(2/2 ページ)

» 2016年12月09日 10時30分 公開
[福田昭EE Times Japan]
前のページへ 1|2       

データ保持時間とリセット電流/温度の関係

 次はデータ保持期間である。データ保持期間については2枚のグラフが示された。最初のグラフは、リセット電流とデータ保持期間の関係である。リセット電流が1μAのときは、約10年(105時間)のデータ保持期間を達成できている。ところが、リセット電流が10nA〜100nAに下がると、データ保持期間は10時間〜30時間と極端に短くなってしまう。これはかなり困った状況だ。

ReRAMのデータ保持期間とリセット電流の関係。出典:SanDisk(クリックで拡大)

 2枚目のグラフは、温度とデータ保持期間の関係である。幸い、温度上昇に対して抵抗変化メモリはかなり強い。150℃でも10年のデータ保持期間を達成できている。もちろん研究レベルのデータなので、そのまま製品の仕様となるわけではない。それでも心強いデータではある。

ReRAMのデータ保持期間と温度の関係。出典:SanDisk(クリックで拡大)

次回に続く

⇒「福田昭のストレージ通信」連載バックナンバー一覧

前のページへ 1|2       

Copyright © ITmedia, Inc. All Rights Reserved.

RSSフィード

公式SNS

All material on this site Copyright © ITmedia, Inc. All Rights Reserved.
This site contains articles under license from AspenCore LLC.