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» 2018年12月13日 13時30分 公開

SEMICON Japan 2018:高速NAND向けテストシステムなど、アドバンテストが展示 (1/2)

アドバンテストは「SEMICON Japan 2018」(2018年12月12〜14日、東京ビッグサイト)で、同社のテストプラットフォーム向けの新しいモジュールなど、新製品を展示した。

[村尾麻悠子,EE Times Japan]

 アドバンテストは「SEMICON Japan 2018」(2018年12月12〜14日、東京ビッグサイト)で、同社のテストプラットフォーム向けの新しいモジュールなど、新製品を展示した。

 オートモーティブや産業向けのテストプラットフォーム「V93000」向けの新しいモジュールとしては、2018年5月に発表した「FVI16」がある。16チャンネルを備えたフローティングVI(電圧/電流)ソースモジュールで、250Wのパルス電力と40Wの直流電力を発生できることが特長だ。車載や産業、コンシューマー向けパワーマネジメントICなど、ハイパワーなアナログ/パワーデバイスをテストできる。V93000向けのアナログ/パワーデバイス向けモジュールとしては既存の「AVI64」があるが、こちらは電流が低めでパワーがあまり出せなかった。

ブースに展示している「FVI16」(クリックで拡大)

 さらに、デジタルフィードバックループを採用していることも特長だ。一般的なアナログフィードバックに比べ、オーバーシュートがないのでテスト時間を短縮できるという。スルーレートや帯域設定をユーザーが制御できる機能もあり、使用条件に素早く対応することが可能だ。

 ローエンドの計測システム「EVA100」向けには、2018年11月に発表したばかりのモジュール「HVI」を展示した。HVIモジュールは1000V、2枚のモジュールを接続すれば最大2000Vまで拡張可能だ。これにより、200Vの低電圧パワーMOSFETや600Vの高電圧パワーMOSFETのリーク電流やブレークダウン電圧を高い精度で測定できるようになる。アドバンテストによれば、「SiCパワーデバイスなどの登場を見据えて、最大2000Vまで拡張可能にした」という。

「EVA100」の外観。赤枠で囲んだところが、新しいモジュール「HVI」である。このデモでは、温度をコントロールしながらMOSFETを試験する様子を示している(クリックで拡大)
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