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» 2019年01月08日 09時30分 公開

低抵抗や高絶縁抵抗の測定を実現:潜在不良を検出、高密度プリント配線板検査装置

HIOKI(日置電機)は、ベアボードを自動で検査できるフライングプローブテスター「FA1817」を発売した。標準搭載のソフトウェアを用い、測定結果の「見える化」や不良解析も行うことができる。

[馬本隆綱,EE Times Japan]

検査結果を「見える化」、不良解析も

FA1817の外観(クリックで拡大)

 HIOKI(日置電機)は2018年12月、ベアボードを自動で検査できるフライングプローブテスター「FA1817」を発売した。高密度プリント配線板の不良要因を検出し、検査データを活用して不良解析を行うこともできる

 FA1817は、専用プローブや測定ボードを用いて、低抵抗測定や100GΩ/250Vの高絶縁抵抗測定が可能である。この結果、極めて小さい抵抗値変化を測定することでオープンビア不良を検出することが可能だ。また、パターン形状の異常あるいは、パターン間に存在する不純物やボイドなどによる絶縁異常および、アーク放電現象なども検出できる。

 独自に開発した専用の高精度プローブ「CP1072」を用いると、ベアボードに生じる打痕の深さが従来の半分になり、ベアボードへのダメージを最小限に抑えることができるという。

プローピングの様子 出典:日置電機

 また、基板の表裏をそれぞれ2つのアームでプロービングをすることにより、検査時間を従来に比べて最大20%も短縮できる。さらに、不良解析を行うためのソフトウェア「プロセスアナライザー」を標準搭載した。蓄積した検査結果のデータを、測定値の推移やヒストグラム、分布図といった形に「見える化」することができる。分析した不良の内容を、設計工程や製造工程にフィードバックすれば、歩留まりの改善につながるとみている。

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