高周波の非線形特性を高精度に解析、新概念の「Xパラメータ」で実現：無線通信技術（1/5 ページ）

　一般に高周波回路の線形領域における解析には、回路の入出力の関係を表現するパラメータとして広く普及している「Sパラメータ」が使われる。ただしSパラメータは非線形性を表現できないため、非線形領域の解析内容に制限があるという課題を抱えていた。

　そこでAgilent Technologies社は、非線形領域における高周波回路の入出力関係を表現する独自の「Xパラメータ」を新たに開発し、これに基づく非線形モデルを活用する非線形解析手法を提唱した。各種の高周波回路を組み合わせて構成する無線送受信システムの隣接チャネル漏えい電力比（ACPR）特性などを、従来に比べて高い精度で解析できるという。

　すでに同社は、Xパラメータの抽出に向けた測定環境や、Xパラメータを扱える高周波シミュレータの提供を始めている。本稿では、同社の日本法人であるアジレント・テクノロジーの技術者に、Xパラメータの概念や原理について説明してもらうほか、Xパラメータの抽出に向けた測定技術や、高周波シミュレータでの具体的な活用方法などを解説してもらう（EE Times Japan）。

「Xパラメータ」に基づくビヘイビア・モデルを使って、高周波回路シミュレータでサーキット・エンベロープ解析を実行した例である。パワー・アンプの隣接チャネル漏えい電力比を解析した。Xパラメータを使えば、こうした非線形特性を高い精度で解析できる。

【目次】

Xパラメータの概念

Xパラメータの原理

Xパラメータの測定技術

Xパラメータのシミュレーション活用