製造現場で高周波部品の特性を計測、MRFのポータブル測定装置：マイクロウェーブ展2013

　エム・アールエフは、「マイクロウェーブ展2013」（2013年11月27〜29日、パシフィコ横浜）で、Mini-Circuits製の高周波部品やポータブル測定システムなどを展示した。ポータブル測定システムは製造現場での高周波計測に向けたものである。また、ロスが少なく放熱特性に優れたTELEDYNE製の高周波回路用基板なども来場者の注目を集めた。

　Mini-Circuits製の高周波部品は、WiMAXやLTEの基地局装置向けをはじめ、防衛機器、放送機器、測定機器といったさまざまな用途に対応している。今回のマイクロウェーブ展では、製造現場でも高周波部品の特性を容易に計測できるポータブル測定システムのデモ展示を行った。同測定システムは信号発生器、パワーセンサーおよびスイッチで構成され、測定作業や結果の表示などは測定システムとUSBで接続されたPC側で行う。

信号発生器、パワーセンサーおよびスイッチなどで構成されるポータブル測定システム （クリックで拡大）

　展示ブースでは、同測定システムを使ってバンドパスフィルタのインサーションロスやリターンロス、ゲインなどの測定デモを行った。「カプラやスプリッタ、アンプなど携帯電話機に搭載される高周波部品の測定用途に適している」（説明員）と話す。

　TELEDYNE製の高周波回路用基板は、材料にLCP（液晶ポリマー）を採用しており、誘電特性に優れ、吸湿性が低いという特長を持つ。「デバイスの実装などに必要なレーザー加工などもしやすい。ベアチップを埋め込むための精密な加工技術などが当社の強みでもあり、高い加工精度を実現することで放熱性能も高めることができる」（説明員）と語る。受注から納品までの期間は、使用する基板材料の在庫があれば、約4週間で納品することが可能だという。

LCPを採用したTELEDYNE製の高周波回路用基板 （クリックで拡大）