メディア
特集
» 2016年05月20日 13時30分 公開

評価と量産のテストを同じ計測システムで:RF ICのコスト削減を実現するのはテスト工程だ (2/3)

[村尾麻悠子,EE Times Japan]

開発プロセスの標準化

 久保氏によると、これらの課題に対応するべく、RF ICの開発プロセス(設計〜量産)をある程度標準化する取り組みが始まっているという。

標準化で開発期間を短縮する概念(クリックで拡大) 出典:日本NI

 上記の図をもう少し詳しく説明すると、特性評価から量産までの各工程につき、「ハードウェア(測定システム)の選択」「ソフトウェアのコーディング」「開発デバイス(DUT)のテスト」「テスト結果の相関取り」の4つがある。ソフトウェアのコーディングは、テストを自動化するためのプログラミングだと考えればよい。

 「ハードウェアの選択」と「ソフトウェアのコーディング」を標準化する、つまり、特性評価で使用した計測システムと自動化テストプログラムを、量産の工程まで一貫して使うことで、開発期間を短縮できるという仕組みだ。

 久保氏は、「このように、評価で使用した計測システムを量産でも使用するという流れは、1つのトレンドとして今後も拡大していくと考えている」と語る。

10年たって、実現可能に

 ただし、この考え方は、コンセプトとしては10年くらい前から存在していたという。「だが、それを実現できるプラットフォームがなかった」(久保氏)。

 同氏は、「そこで鍵になるのが、PXI(PCI eXtensions for Instrumentation)のプラットフォームだと考えている」と続ける。PXIはオープンな規格であり、NIやKeysight Technologiesなどが、PXIに対応する計測器を提供している。

設計から量産までの工程で使用する計測器(クリックで拡大) 出典:日本NI

 前出したこの図版でいえば、「例えば『検証と特性評価』に使用したPXIのモジュール式計測器を使い、『量産』では当社が提供するPXIベースの半導体テスター「STS(Semiconductor Test System)」を使用することで、PXIという同じテストシステムを使えることになる」(久保氏)。

 久保氏は「10年前は、PXIにはRFを測定できるモジュールがなかった。今は、当社を含め複数のメーカーからPXI対応のRFモジュールが提供されているので、試作時と量産時のテストを標準化するための手段になる。実際に採用しているメーカーも、(名前を公開できないが)何社か把握している」と説明する。同氏は、「こうしたプラットフォームを取り入れていかなければ、テストコスト、ひいては開発コストの削減は基本的には難しいのではないか」と続けた。

Copyright © ITmedia, Inc. All Rights Reserved.

RSSフィード

公式SNS

All material on this site Copyright © ITmedia, Inc. All Rights Reserved.
This site contains articles under license from AspenCore LLC.