テスト/計測：
防爆仕様にも対応可能な多目的スマートカメラ
関電エネルギーソリューションとオリエントブレインが共同開発したスマートカメラを用いることで、安全監視や画像検査が必要な現場で生じるさまざまな課題に対して、柔軟に対応することが可能となる。（2012/9/28）

テスト/計測 フォトギャラリー：
【NIWeek 2012】複雑な画像処理や車載用途でのデータ集録の活用例が続々提案
2012年8月6日〜9日（現地時間）に開催された「NIWeek 2012」には、National Instrumentsの計測/制御ハードウェアを、画像処理や車載システム開発に適用した事例が数多く展示されていた。（2012/8/21）

テスト/計測 フォトギャラリー：
【NIWeek 2012】LabVIEWが奏でる“オーケストラ”が青く光る！？――数多くのデモに注目
LEDアニメーションに同期させて楽器を演奏するデモやビール醸造システム、3Dプリンタなど――。2012年8月6日〜9日（現地時間）に開催された「NIWeek 2012」の展示会場には、National Instrumentsのグラフィカル開発ツール「LabVIEW」や計測/制御ハードウェアを、組み込みシステム用途で活用したデモが注目を集めていた。（2012/8/20）

テスト/計測：
【NIWeek 2012】LabVIEW最新版をNIが発表、生産性と拡張性がさらに向上
National Instrumentsは、計測/制御用アプリケーションソフトウェアに向けたグラフィカル開発ツールの最新版「LabVIEW 2012」を、年次のテクニカルイベント「NIWeek 2012」で発表した。（2012/8/17）

テスト/計測：
【NIWeek 2012】26年ぶりに“計測を再定義”、新コンセプトのRF計測器をNIが発表
NIが発表したモジュール型RF計測器の新製品は、スタンドアロン型RF計測器を複数台組み合わせて構築するのと同等の機能を備えており、「小型かつ高速で低価格」をうたう。加えて、内蔵FPGAをユーザーが同社のグラフィカル開発ツールを使って手元で書き換え、任意の計測機能を実現できる仕組みも用意した。（2012/8/14）

テスト/計測：
【NIWeek 2012】外部PC不要のデータ集録用シャーシが登場、Intel製デュアルコアCPUを内蔵
National Instrumentsは、シャーシ部にIntel製のデュアルコアプロセッサを搭載したデータ集録ハードウェアの新型機を発表した。内蔵のプロセッサ上でWindows EmbeddedもしくはリアルタイムOSを稼働させることが可能だ。従来機で必要だった外部PCが不要になる。（2012/8/10）

テスト/計測：
【NIWeek 2012】日本の最新技術を世界に発信、スーパーカブの荷台に載る全自動の放射線計測器も
National Instrumentsが米国のテキサス州オースチンで毎年8月に開催する同社最大のテクニカルイベント「NIWeek」。今週の月曜日に開幕したNIWeek 2012では、展示会場の一角に「ジャパンパビリオン」が設けられ、日本の企業や大学が“日本発”の独自技術を世界に向けて紹介した。（2012/8/9）

テスト/計測：
【NIWeek 2012】複雑度増すシステム開発、「V字モデル」を進化させる手法をNIのCEOが語る
National Instrumentsのカンファレンス兼展示会「NIWeek 2012」が開幕した。最初の基調講演には同社の創設者でプレジデント兼CEOであるJames Truchard氏が登壇し、「System Design for the 21st Century」というタイトルのプレゼンテーションを通じて、同社のビジョンを語った。（2012/8/8）

テスト/計測 オシロスコープ：
テクトロが高性能オシロの解析機能を大幅拡充、シリアル規格のデバッグ強化
オシロスコープの最大手メーカーであるテクトロニクス社は、同社既存の高性能機種のファームウェアにアップデートを施し、デバッグ/解析機能を大幅に拡充した。各種シリアルバス規格のデバッグ機能を強化し、ユーザーである機器設計者の所要工数を短縮する狙い。（2012/7/23）

TECHNO-FRONTIER 2012 テスト/計測：
EMI対策と併せて温度・振動ストレステストを展示したアンリツ
アンリツは、EMI対策に役立つ計測機器をTECHNO-FRONTIER 2012に出展した。併せて、ストレス試験サービスについても展示していた。（2012/7/19）

TECHNO-FRONTIER 2012 テスト/計測：
再生エネ分野に役立つ測定器、東陽テクニカがシミュレータと併せて展示
再生可能エネルギーを効率よく利用するには、不利な環境下でも効率よく動作し、劣化が生じにくい機器を作り上げる必要がある。東陽テクニカは太陽光発電システムや、蓄電池（二次電池）の開発に役立つ計測器やシミュレータを見せた。（2012/7/17）

TECHNO-FRONTIER 2012 テスト/計測：
「電池やキャパシタに最適」、電気化学用インピーダンスアナライザを日置電機が投入
日置電機は、各種電池やキャパシタの開発や出荷検査などに向けたインピーダンスアナライザを開発した。8月末までに発売する予定だ。インピーダンス測定の結果から等価回路パラメータを求める解析機能を備えており、電気化学部品の専用モデルも4種類用意した。（2012/7/12）

テスト/計測：
人体を「磁界」から守れ――可視化ツールが登場
磁界は体に良いのか悪いのか。これは場合によって異なる。変動する強い磁界には明らかな悪影響がある。では、弱い低周波磁界ならどうだろうか。今後は、電気自動車（EV）や太陽光発電システムのインバータなど弱い低周波磁界を帯びた製品が増えていく。ノイズ研究所など3社は、磁界を可視化するシステムを開発した。（2012/7/9）

テスト/計測：
Xilinxの「Zynq」採用やモバイルの活用も、NIが語る新たな組み込み開発
日本ナショナルインスツルメンツは2012年5月15日に新製品説明会を開催し、同社の「グラフィカルシステム開発」の特徴をあらためて説明した。加えて、XilinxのFPGA製品群「Zynq（ジンク）」やスマートフォン/タブレットPC、クラウドコンピューティングを活用するという最近の取り組みを紹介した。（2012/5/17）

テスト/計測：
【NIWeek 2011】RFテスト強化の姿勢を鮮明に、26.5GHz対応VSAやLTE Advancedのデモも
National Instrumentsが、「高周波（RF）テスト」の製品強化を続けている。「NIWeek 2011」の基調講演で、National Instrumentsがとりわけ多くの時間を割いたのが、RFテスト分野の製品紹介やデモだった。（2011/8/16）

テスト/計測：
【NIWeek 2011】計測/制御にマルチコアの恩恵を、再構成可能ハード「CompactRIO」の新機種発売
NIの開発プラットフォームを構成する重要な要素の1つが、再構成可能な計測/制御用ハードウェア「CompactRIO」である。NIWeek 2011では、再構成可能な計測/制御用ハードウェアの製品群に新機種を2つ追加した。（2011/8/9）

テスト/計測：
【NIWeek 2011】 たこ揚げ発電や文字を描く滝など、計測/制御ハードウェアの活用例が続々
2011年8月2日〜4日（現地時間）で開催された「NIWeek 2011」の展示会場には、National Instrumentsの計測/制御ハードウェアを使った、さまざまな事例が展示されていた。（2011/8/8）

テスト/計測：
【NIWeek 2011】スマートグリッドや太陽電池の状態監視にも、NIがデータ集録の多様な用途をデモ
「NIWeek 2011」には、風力発電や太陽光発電といった再生可能エネルギーや、スマートグリッドの状態モニタリングに、National Instrumentsの集録ハードウェアを活用したデモが数多くあった。（2011/8/5）

テスト/計測：
【NIWeek 2011】NIがLabVIEW 2011を発売、25年後をイメージしたデモも披露
National Instrumentsは、計測/制御用アプリケーションソフトウェアに向けたグラフィカル開発ツールの最新版「LabVIEW 2011」を、NIWeek 2011で発表した。（2011/8/4）

テスト/計測：
【NIWeek 2011】仮想計測からシステム開発へ、NIのCEOが語るLabVIEWの将来像
National Instrumentsのカンファレンス兼展示会「NIWeek 2011」が、2011年8月2日（現地時間）に開幕した。初日の基調講演には、同社の創業者でプレジデント兼CEO（最高経営責任者）であるJames Truchard氏が登壇し、「Innovation in the Era of Graphical System Design」というタイトルのプレゼンテーションを通して、同社のビジョンを語った。（2011/8/3）

テスト/計測 スペクトラムアナライザ：
無線設計の不具合を見つけ出せ、スペアナの進化が視界を広げる
一般家庭に無線機器があふれ返る現代。機器メーカーは、標準規格に準拠した半導体チップやモジュールを利用すれば、比較的容易に無線機能を組み込める。しかし規格の林立や機器の複雑化などで、無線設計の不具合からは簡単に逃れられないのが実情だ。その不具合を確実に捕捉し、原因を追究する道具が必要になる。無線設計に欠かせない測定器であるスペクトラムアナライザが近年、この要求に応えるべく進化を遂げている。（2011/7/11）

テスト/計測 ロジックアナライザ：
4Gビット/秒の高速ロジックアナライザをアジレントが発売、DDR3/4対応メモリの解析に向ける
ステート速度が68チャネル時に最大4Gビット/秒と高い。DDR3やDDR4の高速インタフェースに対応するメモリやモジュール、それらを搭載する機器の開発に使える。（2011/6/30）

テスト/計測 ネットワークアナライザ：
ローデの新型ネットワークアナライザ、高速・高性能を訴求し「アジレントの牙城を崩す」
3GHz機と4.5GHz機、8.5GHz機を用意した。測定性能と掃引速度、使い勝手を高め、消費電力を低く抑えつつも、価格については競合他社機と同じに設定したという。（2011/5/26）

テスト/計測　直流電源/測定ユニット：
ベンチトップ型ながらI-Vカーブを表示できるソース/メジャーユニット、アジレントが発売
競合他社の既存機種では、測定結果を外部PCに取り出し、表計算ソフトのグラフ機能を使うなどしてI-Vカーブを描く必要があったという。新製品では、このステップが不要になる。（2011/5/19）

テスト/計測 モジュール式計測器：
NIが12.5Gサンプル/秒の5GHzデジタイザを発売、テクトロニクスがA-D変換器を提供
National Instrumentsは、帯域幅が5GHzと広く、サンプリング速度が12.5Gサンプル/秒と高いハイエンドのデジタイザモジュールを発売した。Tektronixとの共同開発品である。Tektronixが開発したA-D変換器LSIを採用することで、高い性能を実現した。（2011/5/10）

テスト/計測　直流電源/測定ユニット：
印加/シンク範囲が1pA〜50Aと広い、Keithleyのパワエレ向け直流電源/測定ユニット
Keithley Instrumentsは、電流の印加/シンク範囲が1pA〜50Aと広い直流電源/測定ユニット「2651A」の販売を開始した。SiCやGaNなどのパワー半導体や、高輝度LED、DC-DCコンバータ、電池などの特性評価や試験に使える（2011/4/19）

テスト/計測　ミリ波：
「ミリ波帯の測定限界を押し上げる」、アジレントのハイエンドスペアナが50GHzに対応
アジレント・テクノロジーは、信号解析機能搭載の高性能スペクトラムアナライザー「Agilent PXAシグナル・アナライザ」を拡充し、測定周波の上限が50GHzと高い機種「N9030A-550」と同44GHzの「N9030A-544」を発売した。（2011/4/14）

テスト/計測：
「10年ぶりに帰ってきた」、アジレントがEMC試験向け高性能スペアナを投入
アジレント・テクノロジーは、電気・電子機器の電磁両立性（EMC）のコンプライアンス試験に向けて、高性能スペクトラムアナライザー（EMIレシーバ）の新機種「N9038A MXE」を発売した。（2011/3/31）

テスト/計測　モジュール型計測器：
なぜモジュール型計測器なのか、高性能化で選択肢が拡大
かつては別々の機器に散らばっていた数々の機能が、現在では1つの機器に集約されるようになってきた。いまや携帯電話機もテレビも自動車も、多様な機能を複合的に備えている。そうした機器を高い品質で開発し、高いコスト効率で量産するには、複合的な機能が相互に及ぼす影響を包括的に評価できる計測システムが必要だ。所要の計測機能を過不足無く搭載し、さまざまな形態の信号を多チャンネルで同期をとりながら評価できるシステムを実現したい――。開発/製造現場のこうした声に応えるツールとして、モジュール型計測器の存在感が高まっている。（2010/11/10）

テスト/計測：
原子の挙動を超高速に視覚化、究極のメモリ実現へ道開く
たった1つの原子に1ビットの情報を記録する･･･。そんな究極のメモリの実現へ、道を開く成果だろう。（2010/10/28）

テスト/計測 モジュール式計測器：
アジレントがモジュール計測器に本格参入、NIと直接競合せずシェア獲得狙う
計測器メーカー大手のアジレント・テクノロジーが、モジュール型計測器に本格的に参入する。デジタイザ（A-D変換モジュール）や任意波形発生器、オシロスコープ、ベクトルシグナルアナライザ（VSA）など、機能が異なるモジュール合計47機種を2010年9月14日に一挙に発売し、出荷も即日開始した。（2010/9/21）

テスト/計測：
位相雑音測定器が多彩に、最適機は用途で選ぶ
位相雑音を高い精度で手軽に測定できることを売りにした測定器が、最近になって相次いで登場している。それらは、それぞれ特徴的な機能を備えるほか、利害得失がある。従って、「最適」な測定器は測定対象とする信号源や、測定結果をどのように活用したいかによって違う。各測定器の特徴や使いどころを解説する。（2007/5/14）